optris 德國(guó)紅外測(cè)溫儀CTratio 2MH1

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
optris 德國(guó)紅外測(cè)溫儀CTratio 2MH1有以下特點(diǎn)：

測(cè)量范圍廣：溫度測(cè)量范圍為 550 - 3000℃，可滿足多種高溫測(cè)量場(chǎng)景需求，適用于金屬加工、玻璃制造等行業(yè)對(duì)高溫物體的溫度測(cè)量。
光譜特性佳：光譜范圍為 1.45 - 1.75µm，在此波段下對(duì)金屬、陶瓷等材料的溫度測(cè)量有較好的適應(yīng)性，能有效降低發(fā)射率變化對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
光學(xué)分辨率高：光學(xué)分辨率（95% 能量）為 10

產(chǎn)品型號(hào)：CTratio 2MH1 .

更新時(shí)間：2025-11-01

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

訪問(wèn)量：275

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產(chǎn)品分類

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品牌	Optris/德國(guó)歐普士	價(jià)格區(qū)間	面議
儀器種類	便攜	產(chǎn)地類別	進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合

optris 德國(guó)紅外測(cè)溫儀CTratio 2MH1

optris 德國(guó)紅外測(cè)溫儀CTratio 2MH1

optris 德國(guó)紅外測(cè)溫儀CTratio 2MH1有以下特點(diǎn)：

測(cè)量范圍廣：溫度測(cè)量范圍為 550 - 3000℃，可滿足多種高溫測(cè)量場(chǎng)景需求，適用于金屬加工、玻璃制造等行業(yè)對(duì)高溫物體的溫度測(cè)量。

光譜特性佳：光譜范圍為 1.45 - 1.75µm，在此波段下對(duì)金屬、陶瓷等材料的溫度測(cè)量有較好的適應(yīng)性，能有效降低發(fā)射率變化對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。

光學(xué)分辨率高：光學(xué)分辨率（95% 能量）為 100:1，可較好地分辨不同距離的目標(biāo)，有助于實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量，即使目標(biāo)較小或距離較遠(yuǎn)，也能準(zhǔn)確測(cè)量其溫度。

測(cè)量精度高：系統(tǒng)精度（環(huán)溫 23±5℃）為 ±(1% 測(cè)量溫度 + 1℃)，重復(fù)精度（環(huán)溫 23±5℃）為 ±(0.5% 測(cè)量溫度 + 1℃)，溫度分辨率（>900℃）為 0.1K，測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠，能為工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程提供精確的溫度數(shù)據(jù)。

響應(yīng)速度快：曝光時(shí)間（95% 信號(hào)）為 5ms - 10s，可快速捕捉溫度變化，能對(duì)快速的工藝過(guò)程進(jìn)行有效監(jiān)測(cè)，如金屬的快速加熱或冷卻過(guò)程，及時(shí)為生產(chǎn)控制提供反饋。

功能豐富：具有 1 色 / 2 色模式切換功能，可根據(jù)實(shí)際測(cè)量需求靈活選擇測(cè)量模式。具備衰減監(jiān)控 / 報(bào)警、峰值保持、谷值保持、平均值等信號(hào)處理功能，還可通過(guò)設(shè)置鍵或軟件調(diào)節(jié)發(fā)射率、斜率等參數(shù)，以適應(yīng)不同測(cè)量對(duì)象和工況的要求。

環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)：堅(jiān)固的探頭部分和光纖電纜在環(huán)境溫度高達(dá) 315℃時(shí)無(wú)需冷卻，環(huán)境等級(jí)為 IP65（NEMA - 4），能有效防止灰塵和水的侵入，可適應(yīng)各種惡劣的工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境，如高溫、潮濕、多塵等場(chǎng)所。

電氣特性良好：工作電源通常為 8 - 36V DC 等，能適應(yīng)多種供電方式。模擬輸出為 2x 0/4 - 20mA（12 位，可選 16 位）等，還有三個(gè)可編程的輸入 / 輸出引腳，可選擇作為報(bào)警輸出、觸發(fā)信號(hào)輸出和峰值保持功能的輸入，或作為外部發(fā)射率或斜率調(diào)節(jié)的模擬輸入，便于與各種控制系統(tǒng)和數(shù)據(jù)采集設(shè)備連接。

瞄準(zhǔn)方便：可通過(guò)軟件或電子盒控制 520nm、<1mW 的激光瞄準(zhǔn)，方便用戶準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)測(cè)量目標(biāo)，即使在光線較暗或難以直接觀察的情況下，也能快速找到測(cè)量點(diǎn)。

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